Pourquoi utiliser la technologie Boundary Scan (JTAG) pour le développement de tests de vos cartes électroniques?
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Vous êtes probablement familiers avec le JTAG, pour le debug/émulation de processeurs et/ou pour la programmation de FPGAs/CPLDs mais savez-vous que cette technologie, également connue sous le nom Boundary Scan, a été conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques.
Avec les outils XJTAG, découvrez comment simplifier le développement de tests complets, aider dans le diagnostic et déboguer les fautes sur les cartes défaillantes, même avec des composants à pas fin tels que FPGA ou BGA.
Avec les outils XJTAG, découvrez comment simplifier le développement de tests complets, aider dans le diagnostic et déboguer les fautes sur les cartes défaillantes, même avec des composants à pas fin tels que FPGA ou BGA.
Quel que soit le stade du cycle de vie d’un produit électronique – de la conception jusqu’au maintien en conditions opérationnelles, en passant par la production – de nombreux bénéfices peuvent être retirés par la mise en œuvre de la méthode de test Boundary Scan (JTAG).
Nous allons plus particulièrement, nous intéresser aux raisons pour lesquelles les ingénieurs, lors des phases de conception, de mise au point des prototypes, et de SAV des cartes électroniques, ont intérêt à utiliser les systèmes de test XJTAG basés sur la technologie Boundary Scan.
Nous allons plus particulièrement, nous intéresser aux raisons pour lesquelles les ingénieurs, lors des phases de conception, de mise au point des prototypes, et de SAV des cartes électroniques, ont intérêt à utiliser les systèmes de test XJTAG basés sur la technologie Boundary Scan.
Pourquoi utiliser JTAG/Boundary Scan pour le test de cartes en phase de conception, prototype et SAV ?
Tests de composants BGA
⇒ Test des composants BGA faciles à réaliser avec les outils XJTAG
Un nombre croissant de composants sont disponibles avec un packaging BGA (Ball Grid Array). Chaque composant BGA sur une carte impose des restrictions sévères sur les tests qui ne peuvent pas être effectués en utilisant des systèmes de test traditionnels (lits à clou ou sondes mobiles).
Grâce à une interface simple à quatre broches, JTAG / boundary scan permet de contrôler et de piloter les signaux sur les composants concernés sans aucun accès physique direct sur le composant.
Rapidité de développement des tests
⇒ Développement des tests en heures au lieu de jours avec l’outil XJDeveloper :
Test des cartes sans le firmware
⇒ Démarrez les tests de votre hardware avant que le logiciel soit disponible.
Couverture de test élevée sur des cartes complexes
⇒ Accédez à une plus grande partie de votre carte avec les outils XJTAG.
Vous pouvez trouver plus de courts-circuits, circuits ouverts et autres défauts de fabrication en utilisant les tests d’interconnexion adaptables et les librairies de test disponibles sur XJDeveloper.
Par ailleurs, XJDeveloper permet de faire une analyse de couverture de test, et des Plugin disponibles pour ORCAD Capture et ALTIUM/Cadence permettent de quantifier la couverture de test pendant la phase de conception
Débogage des cartes plus rapide
⇒ Bénéficiez de toutes les capacités de la technologie Boundary scan avec les outils XJTAG
Les défauts de conception rencontrés lors du débogage des prototypes sont souvent mélangés à des défauts liés à la fabrication, tels que des courts-circuits et des circuits ouverts. Grâce à l’utilisation de Boundary Scan pour la détection des défauts structurels, le débogage des prototypes est plus rapide.
Faible coût de possession des équipements de test
⇒ Tests de niveau production réalisés sur table pour les prototypes de cartes électroniques
Les technologies de test traditionnelles requièrent un équipement très coûteux.
Le seul équipement de test requis pour les tests JTAG / boundary scan est un contrôleur JTAG. Le contrôleur XJLink2 de XJTAG est de taille similaire à celle d'une souris PC.
Programmation in-situ de composants
⇒ Un seul outil pour tester et programmer
Au stade prototype, après élimination des défauts de fabrication, le système XJTAG peut être utilisé par l’équipe de conception pour programmer le firmware. La technologie JTAG permet en effet de programmer de nombreux types de composants
⇒ Test des composants BGA faciles à réaliser avec les outils XJTAG
Un nombre croissant de composants sont disponibles avec un packaging BGA (Ball Grid Array). Chaque composant BGA sur une carte impose des restrictions sévères sur les tests qui ne peuvent pas être effectués en utilisant des systèmes de test traditionnels (lits à clou ou sondes mobiles).
Grâce à une interface simple à quatre broches, JTAG / boundary scan permet de contrôler et de piloter les signaux sur les composants concernés sans aucun accès physique direct sur le composant.
Rapidité de développement des tests
⇒ Développement des tests en heures au lieu de jours avec l’outil XJDeveloper :
- Environnement de développement et outil avancé de génération de vecteurs de test
- Réutilisation de bibliothèques gratuites pour les composants boundary scan.
- Développement d’une application de test personnalisée.
Test des cartes sans le firmware
⇒ Démarrez les tests de votre hardware avant que le logiciel soit disponible.
- Validation du hardware indépendamment du soft embarqué
- Test du prototype au plus tôt
- Détection de défauts pour les cartes qui ne bootent pas.
Couverture de test élevée sur des cartes complexes
⇒ Accédez à une plus grande partie de votre carte avec les outils XJTAG.
Vous pouvez trouver plus de courts-circuits, circuits ouverts et autres défauts de fabrication en utilisant les tests d’interconnexion adaptables et les librairies de test disponibles sur XJDeveloper.
Par ailleurs, XJDeveloper permet de faire une analyse de couverture de test, et des Plugin disponibles pour ORCAD Capture et ALTIUM/Cadence permettent de quantifier la couverture de test pendant la phase de conception
Débogage des cartes plus rapide
⇒ Bénéficiez de toutes les capacités de la technologie Boundary scan avec les outils XJTAG
Les défauts de conception rencontrés lors du débogage des prototypes sont souvent mélangés à des défauts liés à la fabrication, tels que des courts-circuits et des circuits ouverts. Grâce à l’utilisation de Boundary Scan pour la détection des défauts structurels, le débogage des prototypes est plus rapide.
- Détection plus rapide de plus de défauts
- Intégration aisée des modifications de design
- Isolation rapide des défauts et diagnostics accélérés.
Faible coût de possession des équipements de test
⇒ Tests de niveau production réalisés sur table pour les prototypes de cartes électroniques
Les technologies de test traditionnelles requièrent un équipement très coûteux.
Le seul équipement de test requis pour les tests JTAG / boundary scan est un contrôleur JTAG. Le contrôleur XJLink2 de XJTAG est de taille similaire à celle d'une souris PC.
Programmation in-situ de composants
⇒ Un seul outil pour tester et programmer
Au stade prototype, après élimination des défauts de fabrication, le système XJTAG peut être utilisé par l’équipe de conception pour programmer le firmware. La technologie JTAG permet en effet de programmer de nombreux types de composants
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Le test JTAG améliorera-t-il la testabilité de vos cartes électroniques ?
Les méthodes traditionnelles de test et de débogage de cartes électroniques ne répondent pas toujours complétement aux attentes des sociétés qui souhaiteraient disposer d’un système de test adapté aussi bien à la mise au point des prototypes qu’aux tests de cartes en production.