Le test JTAG améliorera-t-il la testabilité de vos cartes électroniques ?

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Les méthodes traditionnelles de test et de débogage de cartes électroniques ne répondent pas toujours complétement aux attentes des sociétés qui souhaiteraient disposer d’un système de test adapté aussi bien à la mise au point des prototypes qu’aux tests de cartes en production.

Voici quelques-unes des problématiques couramment rencontrées :

Pas assez de points de test sur la carte : de nombreux designs actuels conduisent à une grande densité d’implantation des composants, impliquant une réduction du nombre de points de test
Un nombre croissant de composants sont fournis en boîtier BGA.Ces nouvelles tendances imposent de sévères restrictions sur les tests effectués avec des testeurs traditionnels, tels que les lits à clous ou sondes mobiles
Face à la complexité grandissante des cartes, il devient nécessaire de détecter et corriger les défauts le plus en amont possible du processus de production
Diagnostic de défaut difficile : le test fonctionnel ne fournit pas des informations très précises sur les défauts détectés sur la carte, ce qui peut rallonger significativement les temps d’investigation

De nombreux bénéfices peuvent être retirés par la mise en œuvre de la technologie de test Boundary Scan/JTAG

La technologie de test Boundary Scan /JTAG (WP XJTAG) peut permettre d’améliorer votre processus de test pour des cartes de moyenne ou grande complexité… et cela à un prix abordable, avec un temps d’exécution des tests plus court.

Testez les cartes prototypes sans firmware, répondez aux questions « problème matériel ou logiciel ? » et diminuez le temps global de développement.
Diagnostiquez et réparez rapidement les défauts, même sous des boitiers BGA.
Testez et programmez les composants JTAG et non-JTAG à partir du même environnement.
Développez rapidement les tests, en réduisant considérablement les coûts de développement des moyens de test.

Savez-vous que beaucoup de circuits intègrent nativement la technologie JTAG sur la carte, mais que cela est parfois ignoré par leurs utilisateurs ?

ISIT peut vous aider à mener une réflexion sur l’amélioration de votre processus de test.

Pour commencer à améliorer votre processus de test, ISIT vous propose d’essayer gratuitement XJTAG sur une de vos cartes avec accès à toutes les fonctionnalités du système de test pendant 30 jours.

Comment essayer gratuitement un Système XJTAG ?

Phase 1 :

Inscrivez-vous pour un essai gratuit sur la carte de votre choix.

Fournissez une de vos propres cartes électroniques (sous accord de confidentialité, bien sûr) et nous développons gratuitement le programme de test JTAG relatif à ce design.

Phase 2 :

Effectuez un essai de 30 jours.

Pour cela nous vous livrons le setup de test de votre carte (Phase 1) avec un système de test XJTAG complet et entièrement fonctionnel (logiciel & matériel) :

Contrôleur USB XJLink2 et licences logicielles des outils XJTAG
Carte de démonstration XJDemo, tutoriaux, accès libre au support ISIT et XJTAG et aux librairies de composants
Exemples d’intégration à LabVIEW™, TestStand etc

Formation gratuite sous forme d’atelier

Pour vous permettre de découvrir les fondamentaux du test JTAG et prendre en main les outils XJTAG autour d’exemples pratiques et pertinents, nous organisons des Workshops gratuits.

Nous pouvons aussi à votre demande organiser un workshop ou une formation dans vos locaux, dédiée à vos ingénieurs et techniciens. N’hésitez pas à nous contacter pour en définir les conditions.

Vous pouvez aussi regarder les vidéos en français concernant des tutoriaux pour la mise en œuvre des tests XJTAG.

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