Nouvelle release v3.8 des outils XJTAG
XJTAG® (l'un des principaux fournisseurs mondiaux de solutions matérielles et logicielles JTAG / boundary scan), annonce la nouvelle release v3.8 des outils XJTAG. Cette nouvelle version offre un développement de tests JTAG et une détection des défauts, plus intelligents et plus rapides, ainsi qu’une analyse améliorée de la couverture de tests.
Quoi de neuf dans XJTAG 3.8 ? :
Le « Waveform Viewer » est maintenant disponible dans XJDeveloper (environnement de développement des tests complet), ce qui améliore l’approche utilisateur ; le « Layout viewer » est entièrement revu et les algorithmes d'analyse de couverture de test ont été améliorés.
Cette dernière version offre un débogage plus intelligent, une programmation plus fluide et une meilleure analyse de la couverture de test. La manière dont les données sont visualisées est mieux contrôlée, car les détails relatifs au fonctionnement des blocs logiques et les données enregistrées sur les broches sont plus facilement visibles.
Cette dernière version offre un débogage plus intelligent, une programmation plus fluide et une meilleure analyse de la couverture de test. La manière dont les données sont visualisées est mieux contrôlée, car les détails relatifs au fonctionnement des blocs logiques et les données enregistrées sur les broches sont plus facilement visibles.
Les principales améliorations de XJTAG v3.8 sont les suivantes :
Débogage ciblé visuellement avec Waveform Viewer
Bien que le « Waveform Viewer » ait déjà fourni des informations sur le comportement des circuits dans XJAnalyser (outil d’analyse visuelle et de débogage de circuit), il est désormais disponible avec l’environnement de développement des tests, XJDeveloper, pour un débogage amélioré.
Les valeurs des broches lues ou contrôlées dans XJEase (langage haut niveau de description de test) peuvent être affichées dans le « Waveform Viewer » d’XJTAG. Cela offre une nouvelle façon de visualiser ce que fait le système de test et comment il enregistre les erreurs détectées. L’affichage de la forme d'onde détaillée des valeurs des broches ciblées dans le « Waveform Viewer » facilite non seulement le débogage du code de développement des tests, mais peut également être comparée aux diagrammes temporels de la fiche technique. En conséquence, il est facile de diagnostiquer les défauts et de localiser les erreurs.
Les valeurs des broches lues ou contrôlées dans XJEase (langage haut niveau de description de test) peuvent être affichées dans le « Waveform Viewer » d’XJTAG. Cela offre une nouvelle façon de visualiser ce que fait le système de test et comment il enregistre les erreurs détectées. L’affichage de la forme d'onde détaillée des valeurs des broches ciblées dans le « Waveform Viewer » facilite non seulement le débogage du code de développement des tests, mais peut également être comparée aux diagrammes temporels de la fiche technique. En conséquence, il est facile de diagnostiquer les défauts et de localiser les erreurs.
Cette analyse ciblée des signaux permet un examen détaillé de tout comportement inattendu de manière claire et visuelle.
Fonctionnement du « Layout viewer » plus fluide
Le « Layout viewer » (module de visualisation du layout disponible sur tous les outils XJTAG) a maintenant des temps de chargement plus rapides : les fichiers de projet peuvent être ouverts plus rapidement et la navigation est plus fluide. La résolution visuelle est plus nette, ce qui aide les ingénieurs à cibler rapidement les défauts potentiels.
Un bonus supplémentaire concerne le gain d’efficacité lié à la taille du fichier. La taille des fichiers XJPack (qui contiennent des informations sur le Layout Viewer) a été réduite, mais il est toujours possible d'ouvrir des fichiers XJPack plus anciens et plus volumineux.
Meilleure compréhension de la couverture du test
La couverture de test peut être mieux comprise car elle est retracée plus précisément à sa source. XJDeveloper montre maintenant l'impact direct d'activer ou de désactiver un ou plusieurs tests.
La couverture de test actuelle d'un projet particulier peut être comparée à sa couverture de test potentielle. Par conséquent, il est possible de savoir où la couverture doit être étendue, ce qui est une information essentielle pour obtenir la meilleure couverture de test.
La couverture de test actuelle d'un projet particulier peut être comparée à sa couverture de test potentielle. Par conséquent, il est possible de savoir où la couverture doit être étendue, ce qui est une information essentielle pour obtenir la meilleure couverture de test.
Une nouvelle fonctionnalité est la capacité de XJTAG à évaluer la couverture de défauts en utilisant l’approche standard de reporting PCOLA / SOQ.
L'impact de XJTAG v3.8 :
Avec XJTAG v3.8, non seulement les programmeurs, mais aussi les ingénieurs Hardware peuvent facilement visualiser le comportement des circuits à l'aide du « Waveform Viewer ». Ils peuvent gagner du temps en repérant les défauts avec plus de détails, en naviguant de manière intuitive dans le « Layout Viewer » et en évaluant la couverture de test avec précision.
XJTAG v3.8 offre à présent une approche de développement de test plus intelligente et plus rapide, grâce à un contrôle accru de la manipulation et de la présentation des données de test.
XJTAG v3.8 offre à présent une approche de développement de test plus intelligente et plus rapide, grâce à un contrôle accru de la manipulation et de la présentation des données de test.
Pour en savoir plus :
- Découvrez les nouveautés d’XJTAG v3.8 en regardant la vidéo
- Sur les logiciels XJTAG
- White Paper « Qu’est-ce que le JTAG ? ...Et comment en tirer parti dès la conception Hardware ? »