Le test JTAG, simple, économique et très performant !
La technologie JTAG couvre bien plus que le débogage et la programmation !
Vous êtes probablement familiarisés avec le JTAG, les processeurs modernes l’utilisant majoritairement pour accéder à leurs fonctions de débogage intégrées, et tous les FPGA et CPLD l’utilisant pour leur programmation. Mais le JTAG n'est PAS SEULEMENT une technologie pour le débogage du code sur un processeur ou pour la programmation des FPGA/CPLD. En effet, cette technologie, également connue sous le nom de Boundary Scan, a été conçue au départ pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques.
Avec les outils XJTAG, vous allez pouvoir simplifier le la mise au point de vos cartes électroniques, développer der tests complets, et déboguer des cartes défaillantes.
Vous êtes probablement familiarisés avec le JTAG, les processeurs modernes l’utilisant majoritairement pour accéder à leurs fonctions de débogage intégrées, et tous les FPGA et CPLD l’utilisant pour leur programmation. Mais le JTAG n'est PAS SEULEMENT une technologie pour le débogage du code sur un processeur ou pour la programmation des FPGA/CPLD. En effet, cette technologie, également connue sous le nom de Boundary Scan, a été conçue au départ pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques.
Avec les outils XJTAG, vous allez pouvoir simplifier le la mise au point de vos cartes électroniques, développer der tests complets, et déboguer des cartes défaillantes.
Qu'est-ce qu'un test de connexion JTAG ?
XJTAG génère automatiquement les vecteurs nécessaires pour exécuter un test de connexion basé sur la « netlist » de la carte et sur les informations sur les composants compatibles JTAG. Dès lors, un test de connexion vérifie que les connexions autour des composants JTAG sont telles qu'elles ont été spécifiées lors de la conception.
Lorsque deux broches doivent être connectées, le test s'assurera que l'une des broches puisse être contrôlée par l'autre. Par contre, si elles ne doivent pas être connectées, le test détectera des défauts potentiels de court-circuit.
Les résistances de rappel (pull-up/down) manquantes, les pannes de « collage » ainsi que les défaillances qui affectent des composants logiques peuvent également être identifiées par un test de connexion.
Lorsque deux broches doivent être connectées, le test s'assurera que l'une des broches puisse être contrôlée par l'autre. Par contre, si elles ne doivent pas être connectées, le test détectera des défauts potentiels de court-circuit.
Les résistances de rappel (pull-up/down) manquantes, les pannes de « collage » ainsi que les défaillances qui affectent des composants logiques peuvent également être identifiées par un test de connexion.
Qu'en est-il des composants non compatibles JTAG ?
Les DDR, SDRAM, SRAM, mémoires flash, contrôleurs Ethernet, les capteurs de température SPI et I2C, les horloges en temps réel, et les convertisseurs A/N et N/A ne sont que quelques exemples de ces composants courants non compatibles JTAG.
Le test de connexion fournira une excellente couverture de test pour les courts-circuits sur les réseaux reliant ces composants non-JTAG à des composants compatibles JTAG, mais il n'est pas en mesure de vérifier les défauts de circuits ouverts. Afin d’étendre la couverture des tests, XJTAG permet de communiquer avec les composants non-JTAG à partir du Boundary Scan. Ce type de test peut être très simple (p. ex. allumer une LED) ou plus complexe (p.ex. écrire des données dans la mémoire d'une RAM et les relire).
Le test de connexion fournira une excellente couverture de test pour les courts-circuits sur les réseaux reliant ces composants non-JTAG à des composants compatibles JTAG, mais il n'est pas en mesure de vérifier les défauts de circuits ouverts. Afin d’étendre la couverture des tests, XJTAG permet de communiquer avec les composants non-JTAG à partir du Boundary Scan. Ce type de test peut être très simple (p. ex. allumer une LED) ou plus complexe (p.ex. écrire des données dans la mémoire d'une RAM et les relire).
Comment développer un test JTAG ?
XJTAG propose une bibliothèque de composants standards non-JTAG, permettant d’obtenir immédiatement un ensemble de tests prêts à être exécutés sur votre carte sans développement de code. La bibliothèque contient des modèles pour tous types de composants, depuis des résistances et des buffers simples jusqu'à des mémoires complexes tels que des DDR3, le même modèle pouvant être utilisé quel que soit le composant JTAG qui contrôle un composant particulier.
La plupart des circuits imprimés disposant déjà de connecteurs JTAG pour la programmation ou le débogage, il n'y a pas d'exigences supplémentaires de conception pour utiliser cette technologie.
La plupart des circuits imprimés disposant déjà de connecteurs JTAG pour la programmation ou le débogage, il n'y a pas d'exigences supplémentaires de conception pour utiliser cette technologie.
Où puis-je obtenir des informations sur le support JTAG pour mes composants ?
Les informations nécessaires pour exécuter des tests basés sur le Boundary Scan sont contenues dans les fichiers BSDL (Boundary Scan Description Language) du composant, le fournisseur de silicium devant mettre à disposition ces fichiers pour assurer qu'un composant est conforme à la norme IEEE 1149.1.
Pourquoi devrais-je utiliser le JTAG pour tester mes cartes ?
Trois lettres – BGA
Un nombre croissant de composants sont fournis en boîtier BGA (Ball Grid Array). Ce type de packaging impose des restrictions sévères sur les tests qui peuvent être effectués par des testeurs traditionnels, alors qu’avec l’interface à 4 broches du JTAG permet de contrôler et d’analyser les signaux sans aucun accès physique direct.
Trois autres lettres – NRE
Les coûts d'ingénierie non récurrents (NRE) liés au développement des bancs de test peuvent s’avérer prohibitifs. Dans de nombreux cas, le test JTAG peut supprimer la nécessité d'un tel outillage, ou à tout le moins le simplifier, entraînant des économies considérables.
Temps d'exécution de test plus courts
Dans le cas des cartes à faible volume de production, il est difficile de justifier le coût de développement des bancs de test. Dans ce cas-là, les testeurs à sondes mobiles offrent une alternative viable, mais avec un temps d'exécution du cycle de test très long.
Le test JTAG offre un temps d'exécution de tests court, sans besoin de banc de test coûteux.
Un nombre croissant de composants sont fournis en boîtier BGA (Ball Grid Array). Ce type de packaging impose des restrictions sévères sur les tests qui peuvent être effectués par des testeurs traditionnels, alors qu’avec l’interface à 4 broches du JTAG permet de contrôler et d’analyser les signaux sans aucun accès physique direct.
Trois autres lettres – NRE
Les coûts d'ingénierie non récurrents (NRE) liés au développement des bancs de test peuvent s’avérer prohibitifs. Dans de nombreux cas, le test JTAG peut supprimer la nécessité d'un tel outillage, ou à tout le moins le simplifier, entraînant des économies considérables.
Temps d'exécution de test plus courts
Dans le cas des cartes à faible volume de production, il est difficile de justifier le coût de développement des bancs de test. Dans ce cas-là, les testeurs à sondes mobiles offrent une alternative viable, mais avec un temps d'exécution du cycle de test très long.
Le test JTAG offre un temps d'exécution de tests court, sans besoin de banc de test coûteux.
Réduction des coûts de développement des tests
Les processeurs et FPGA interagissant avec les composants de différentes façons, le test fonctionnel traditionnel nécessite un développement personnalisé coûteux pour chaque carte. Le test JTAG réduit considérablement ces coûts de développement, en fournissant une interface simplifiée pour contrôler les broches d’E/S utilisées pour interagir avec les différents composants. Cette interface standard, identique pour tous les périphériques compatibles JTAG, permet d’utiliser un ensemble générique de modèles lors du développement des tests.
Un seul outil pour tester et programmer
Le JTAG est déjà souvent utilisé pour la programmation lors de la production. En l’utilisant également pour le test, il est possible de réduire le nombre d'étapes et de défauts dus à la manipulation dans le processus de production.
Tests de niveau production réalisés pour les prototypes électroniques
Les technologies de test traditionnelles requièrent un équipement très élaboré et coûteux. Le seul équipement de test requis pour les tests JTAG est une sonde JTAG. Le contrôleur XJLink2 de XJTAG est de la taille d'une souris pour PC.
Diagnostic de défaut rapide et précis
Contrairement au test fonctionnel, le JTAG fournit des informations très précises sur les défauts détectés sur la carte, ce qui facilite une réparation rapide. XJTAG permet également de visualiser à la fois l’emplacement physique du défaut sur le routage de la carte et la zone de problèmes sur le schéma électronique.
Récupérez les cartes hors d'usage où le test fonctionnel ne serait pas suffisant
Les tests fonctionnels traditionnels ne peuvent pas être exécutés si la carte ne démarre pas. Ainsi, les défauts simples sur les périphériques clés, tels que la RAM ou les horloges, empêche les tests fonctionnels de fournir des informations de diagnostic, alors qu'ils sont facilement identifiés à l'aide du JTAG.
Plus d'informations : contactez Mr BESSOUDOUX