Formation Test et Analyse JTAG (Boundary Scan) – BASIC
ISIT
Apprendre à utiliser la méthode d’analyse et de test Boundary Scan (JTAG) pour améliorer la conception de circuits électroniques et le diagnostic de défauts de montage, augmenter la couverture de test des cartes électroniques, en particulier sur les circuits complexes équipés de boîtiers BGA, grâce à une approche de testabilité dès la CAO et la phase de prototypage.
Cette formation s’adresse à des ingénieurs et techniciens électroniques, actifs dans les domaines de la conception, du développement, du test et de la fabrication de produits électroniques. Aucune connaissance préalable de la technologie JTAG n’est nécessaire.
Le but de cette formation est d’introduire le sujet de la technologie JTAG pour le test de cartes électroniques, à l’aide d’exemples pratiques, avec une carte de démonstration et l’utilisation des outils XJTAG.
Cette formation s’adresse à des ingénieurs et techniciens électroniques, actifs dans les domaines de la conception, du développement, du test et de la fabrication de produits électroniques. Aucune connaissance préalable de la technologie JTAG n’est nécessaire.
Le but de cette formation est d’introduire le sujet de la technologie JTAG pour le test de cartes électroniques, à l’aide d’exemples pratiques, avec une carte de démonstration et l’utilisation des outils XJTAG.
