Webinar Test et Analyse Boundary Scan / JTAG

Webinaire gratuit : Apprenez les bases de la technologie Boundary Scan

Jeudi 10 Juin à 9h30

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Pourquoi assister à cette session ?

Durée : 2 ou 3 heures
S'adresse aux ingénieurs de conception, de développement, de test et de production
Objectif : une introduction à la mise en pratique de la technologie JTAG Boundary Scan
Avantage : Mise pratique à l’aide de matériel réel. Vous aurez accès à un système de développement XJTAG complet pour vous donner l’expérience de développer et d’exécuter activement des tests boundary scan
Comment : à distance par un ingénieur expérimenté (tout ce dont vous avez besoin est un navigateur Web). Aucune connaissance préalable de la technologie JTAG n’est requise
Présentation en Français/Anglais
Replay disponible après la session avec temps d’accès supplémentaire, vous permettant de vous exercer à votre rythme.

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SOLUTIONS XJTAG

Introduction à JTAG –Concepts, outils et Design for Test (DFT)

Apprenez les bases de la technologie Boundary Scan, et comment vous pouvez l’utiliser tout au long du cycle de vie du produit pour améliorer les designs, limiter les itérations, et améliorer la couverture de test, le diagnostic des défauts et les rendements de production en particulier pour des circuits complexes équipés de boitiers BGA.

Les points abordés durant ce webinar :

Présentation des normes IEEE 1149.x
Comment communiquer avec la chaîne JTAG
Outils pour interagir avec les composants JTAG, tels que les FPGA ou les processeurs
Introduction aux tests de cartes à l’aide de la chaîne JTAG
Comment décrire un circuit afin d’activer les tests JTAG
Capacités de recherche de défauts d’un test de connexion JTAG
Comment tester des éléments non JTAG d’une carte à l’aide du Boundary Scan
Les webinaires sont gratuits sur inscription.